A型、B型便携式相控阵试块

便携相控阵试块具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的规则通孔和官孔以模拟缺陷,可用来校准相控阵超声探伤仪扇扫成像横向(纵向)分辨力、短缺陷分辨力、扇扫角度分辨力等。按照不同功能分 为A型便携式相控阵试块和B型便携式相控阵试块,具体结构及参数如下。

便携相控阵试块具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的规则通孔和官孔以模拟缺陷,可用来校准相控阵超声探伤仪扇扫成像横向(纵向)分辨力、短缺陷分辨力、扇扫角度分辨力等。按照不同功能分 为A型便携式相控阵试块和B型便携式相控阵试块,具体结构及参数如下。

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A型便携式相控阵试块

山东瑞祥

B型便携式相控阵试块

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