A型、B型便携式相控阵试块
便携相控阵试块具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的规则通孔和官孔以模拟缺陷，可用来校准相控阵超声探伤仪扇扫成像横向（纵向）分辨力、短缺陷分辨力、扇扫角度分辨力等。按照不同功能分 为A型便携式相控阵试块和B型便携式相控阵试块，具体结构及参数如下。
便携相控阵试块具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的规则通孔和官孔以模拟缺陷，可用来校准相控阵超声探伤仪扇扫成像横向（纵向）分辨力、短缺陷分辨力、扇扫角度分辨力等。按照不同功能分 为A型便携式相控阵试块和B型便携式相控阵试块，具体结构及参数如下。
A型便携式相控阵试块
B型便携式相控阵试块
