阶梯平底试块（CBI试块）

阶梯平底试块依据NB/T47013-2015承压设备无损检测标准，适用于用双晶直探头检测厚度不大于20mm的板材，还可用来制作双晶探头距离-波幅特性曲线。

阶梯平底试块（CBI试块）是依据相关标准设计，用于超声检测的一种对比试块，在承压设备板材超声检测等方面有重要作用。以下是具体介绍：

• 适用范围：根据NB/T 47013.3-2023《承压设备无损检测 第3部分：超声检测》，CBI试块适用于用双晶直探头检测厚度6mm - 20mm的承压设备用板材。

• 结构特点：CBI试块为阶梯状，带有平底孔。其参考反射体为φ5mm平底孔，且反射体个数至少为3个。这样的设计便于通过不同阶梯位置的平底孔反射波，来校准和评估超声检测设备在不同厚度下的检测性能。

• 使用方法：在检测时，将双晶直探头置于试块上，通过试块上的平底孔反射波来调整仪器的灵敏度等参数。例如，用与工件等厚部位试块的第一次底面回波调整到满刻度的50%，再提高10dB，并在考虑相关补偿后以此作为基准灵敏度。也可用被检板材无缺陷完好部位调节，用被检板材的第一次底面回波调整到满刻度的50%，再提高10dB作为基准灵敏度。通过CBI试块校准后的超声检测设备，可用于对相应厚度范围的板材进行超声检测，以发现板材中的缺陷等问题。

测试方法：（1）选择与检测板等厚或大于检测板厚的阶梯，将探头置于所选择的的台阶上，调节仪器是第一次底波调整至满刻度的50%，在提高10dB，作为基准灵敏度，在基准灵敏度的基础上再增益6dB作为检测灵敏度。

（2）此试块还可用来制作双晶探头距离-波幅特性曲线。将选用已校验好的直探头置于示意图1中a位置，前后左右移动探头使直射声束在平面上得到最大反射回波。将回波幅度调整至满屏的50%高度，记录此时的dB值，此为第一点。探头置于示意图1中b位置，前后左右移动探头使直射声束在平面上得到最大反射回波。将回波幅度调整至满屏的50%高度，记录此时的dB值，此为第二点。探头置于示意图1中c位置，前后左右移动探头使直射声束在平面上得到最大反射回波。将回波幅度调整至满屏的50%高度，记录此时的dB值，此为第三点。以此类推记录探头有效检测范围内所有点，将以上各点连成一条曲线即为标准中规定的双晶直探头距离波幅特性曲线。